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脈沖群發(fā)生器又稱快速瞬變脈沖群發(fā)生器等等;電路中,諸如來自切換瞬態(tài)過程(切斷感性負載、繼電器觸點彈掉等),通常會對同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點是:高幅值、短上升時間、高重復率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對半導體器件的結(jié)電容充電,當累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯。脈沖群發(fā)生器為評估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時的性能確定一個共同的能再現(xiàn)的評定依據(jù)。產(chǎn)品滿足IEC61000-4-4、EN60100-4-4和GB/T17626.4等新標準要求。
脈沖群發(fā)生器又稱快速瞬變脈沖群發(fā)生器等等; 電路中,諸如來自切換瞬態(tài)過程(切斷感性負載、繼電器觸點彈掉等),通常會對同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點是:高幅值、短上升時間、高重復率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對半導體器件的結(jié)電容充電,當累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯。脈沖群發(fā)生器為評估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時的性能確定一個共同的能再現(xiàn)的評定依據(jù)。產(chǎn)品滿足IEC61000-4-4、EN60100-4-4和GB/T17626.4等新標準要求。
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脈沖群發(fā)生器又稱快速瞬變脈沖群發(fā)生器等等; 電路中,諸如來自切換瞬態(tài)過程(切斷感性負載、繼電器觸點彈掉等),通常會對同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點是:高幅值、短上升時間、高重復率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對半導體器件的結(jié)電容充電,當累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯。脈沖群發(fā)生器為評估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時的性能確定一個共同的能再現(xiàn)的評定依據(jù)。產(chǎn)品滿足IEC61000-4-4、EN60100-4-4和GB/T17626.4等新標準要求。
電容耦合夾能在與受試設(shè)備端口的端子、電纜屏蔽層或受試設(shè)備的任何其他部分無任何電連接的情況下將快速瞬變脈沖群耦合到受試線路。電容耦合夾與電快速瞬變脈沖群發(fā)生器配合使用,在設(shè)備的輸入、輸出、控制線、數(shù)據(jù)線上疊加干擾,進行系統(tǒng)抗干擾試驗。符合IEC61000-4-4和GB/T17626.4的標準要求。
電路中,諸如來自切換瞬態(tài)過程(切斷感性負載、繼電器觸點彈跳等),通常會對同一電路中的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點是:高幅值、上升時間短、高重復率和低能量。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對半導體器件的結(jié)電容充電,當累積到一定程度后可能引起電路或設(shè)備出錯。我司自主研發(fā)的脈沖群發(fā)生器為評估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時的性能確定一個共同的能再現(xiàn)的評定依據(jù)。符合標準:GB/T 17626.4《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗》 、IEC61000-4-4:Testing and measurement techniques-Electrical fast fransient/burst immunity test